对纳米元器件的电丈量电压、电阻和电流都带来了一些特有的困难，并且自身简单产生差错。研制触及量子水平上的资料与元器件，这也给人们的电学丈量作业带来了种种约束。在任何丈量中，灵敏度的理论极限是由电路中的电阻所产生的噪声来决议的。电压噪声[1]与电阻的方根、带宽和绝对温度成正比。高的源电阻约束了电压丈量的理论灵敏度[2]。尽管彻底可能在源电

　　为1W的情况下对1mV的信号进行丈量，但在一个太欧姆的信号源上丈量相同的1mV的信号是实际的。即便源电阻大幅下降至1MW，对一个1mV的信号的丈量也接近了理论极限，因而要运用一个一般的数字多用表（DMM）进行丈量将变得好不容易。

　　除了电压或电流灵敏度不够高之外，许多DMM在丈量电压时的输入偏移电流很高，而相对于那些纳米技术[3]常常需求的、灵敏度更高的低电平DC丈量仪器[4]而言，DMM的输入电阻又过低。这些特色增加了丈量的噪声，给电路带来不必要的搅扰，然后形成丈量的差错。

　　体系建立结束后，有必要对其功能进行校验，并且消除潜在的差错源。差错的来历能够包含电缆、连接线]、沾污和热量。下面的章节中将对下降这些差错的一些途径进行讨论。

　　安全一直是有必要仔细考虑的问题。电丈量东西会输出有风险的、乃至是丧命的电压和电流。清楚仪器运用中何时会产生这些景象显得极为重要，只要这样人们才干采纳恰当的安全防备手法。请仔细阅览并遵照各种东西顺便的安全指示。