据日本《每日新闻》近来报导，日本工业技能归纳研究所历时3年，投入大约5亿日元（约合500万美元）经费，研发出了这种声称国际上现有最准确的尺子。这种尺子以硅为质料，能够作为扫描电子显微镜的部件，有望为纳米数量级的准确丈量奠定根底。

　　在半导体出产领域，需要用扫描电子显微镜检测电路的宽度是否契合规划要求。尽管日本出产的扫描电子显微镜在国际市场将近5亿美元销售总额中占有70％，但随着国际各大半导体出产厂商不断提高集成度，开发更精细的丈量仪器成为市场需求趋势。

　　日本工业技能归纳研究所计划先向国内丈量仪器制造商供给新产品的样本，验证其功能，2006年把投入实践使用，继而在2007年研发出最小能准确丈量25纳米的尺子。