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　　纳米压入测验仪首要适用于丈量纳米标准的硬度与弹性模量，丈量成果经过载荷及压入深度曲线核算得出，无需使用显微镜观测压痕面积。纳米压入测验仪可被用于有机或无机、软质或硬质资料的检测剖析，包含PVD、CVD、PECVD薄膜，感光薄膜，彩绘釉漆，光学薄膜，微电子镀膜，维护性薄膜，装饰性薄膜等等。基体可认为软质或硬质资料，包含金属、合金、半导体、玻璃、矿藏和有机资料等。

　　瑞士CSM仪器公司三十年来致力于为全球资料、物理、机械工作者供给先进、精准、全面的资料机械性质测验仪器、剖析咨询以及测验服务。咱们的首要产品包含：

　　界定膜基结合强度、薄膜抗划擦才能的纳米级、微米级、大载荷划痕测验仪 (Scratch tester) ；

　　用于三维成像表征资料外表描摹的原子力显微镜 (AFM) 和白光共聚集显微镜 (Confocal Microscope) 。

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