配有包括了低倍调查到高倍调查的4种物镜，并在电动物镜转换器上装配了SPM单元。能够无缝切换倍率和调查办法，不会丢掉调查方针。此外，该款显微镜能够进行纳米级观测。

　　能够完结低倍到高倍的大规模倍率调查。不只如此，先进光学技能打造的光学显微镜带来多种调查办法，能够简单的发现调查方针。此外，关于光学显微镜难以找到的调查方针，还能够运用激光显微镜进行调查。在激光微分干与（DIC）

　　一体机的机型，所以无需从头放置样品只需在1台设备上切换倍率、调查办法就能够灵敏应对新样品。

　　OLS4500是把光学显微镜、激光显微镜、探针显微镜融于一体的一体机，所以无需从头放置样品，即可自在切换3种显微镜进行调查和点评。这3种显微镜各自持有优异的功用，所以能够高效输出最佳成果。

　　OLS4500选用了白色LED光源， 能够调查到色彩传神的高分辩率五颜六色印象。它装有4种物镜， 包括了低倍到高倍的大规模调查。OLS4500充分发挥了光学调查的专长， 除了最常运用的明视场调查（BF）以外， 还能够运用对细小的凹凸增加明暗比照， 到达视觉立体效果的微分干与调查（DIC）， 以及用色彩体现样品偏光性的简易偏振光调查。此外， OLS4500上还配有HDR功用（高动态规模功用）， 该功用运用不同的曝光时刻拍照多张印象后进行组成， 来显现亮度平衡更好、着重了纹路的印象。在OLS4500上您能够运用多种调查办法敏捷找到调查方针。

　　OLS4500在电动物镜转换器上装配了包括低倍到高倍调查的4种物镜， 以及小型SPM单元。在光学显微镜或激光显微镜的50倍、100倍的实时调查中， 因为SPM扫描规模一向显现于视场中心， 所以把调查方针点对准该方位后， 只需切换到探针显微镜， 就能够正确挨近调查方针。因而， 只需1次SPM扫描就能获取方针印象， 然后能够进步工作功率并降卑微悬臂的损耗。

　　OLS4500选用了装在电动物镜转换器上的物镜型SPM测头。同轴、共焦装备了物镜和微悬臂前端，所以切换SPM调查时不会丢掉调查方针点。不只如此，新开发的小型SPM测头进步了刚性，所以与传统产品比较，减少了印象瑕疵并进步了可追踪性。

　　运用导游功用， 能够调查时进一步扩大探针显微镜拍到的印象的所需部分倍率。只需在印象上用鼠标指针设置扩大规模并扫描， 就能够获取所需的SPM印象。能够自在设置扫描规模， 所以大幅度进步了调查和丈量的功率。

　　因为选用405 nm的短波长激光和更高数值孔径的物镜， OLS4500到达了0.12 μm的平面分辩率。因而， 能够对样品的外表进行亚微米的丈量。结合高精度的光栅读取才能和奥林巴斯独有的亮度检测技能， OLS4500能够分辩出亚微米到数百微米规模内的高度差。此外， 激光显微镜丈量还确保了丈量仪器的两大目标——“正确性”（丈量值与真正值的挨近程度）和“重复性”（屡次丈量值的误差程度）的功用。

　　近年来， 工业产品越来越趋于小型化和轻量化， 所以构成产品的各种部件也越来越精密化。跟着这些部件的精密化， 除了形状丈量以外， 外表粗糙度丈量的重要性也日益进步。

　　为了应对这些市场需求， ISO规则的立体外表结构丈量仪器中， 增加了激光显微镜和AFM（ISO 25178-6）。因而， 与传统的触摸式外表粗糙度丈量相同， 非触摸式外表粗糙度丈量也被认定为公认点评规范。OLS4500中装备了契合ISO规则的粗糙度参数。

　　光学显微镜是从样品上方照耀可见光（波长约400 nm到800 nm）， 运用其反射光成像， 能够扩大样品数十倍到一千倍左右进行调查。光学显微镜的专长是能够实在调查五颜六色样品， 还能够切换调查办法， 着重样品外表的凹凸， 运用物质的特性（偏光性）进行调查。OLS4500上能够运用下述调查办法。明视场调查最基本的调查办法，经过样品的反射光成像进行调查

　　光学显微镜的平面分辩率很大程度上取决于所用光的光子和波长，选用短波长的激光扫描显微镜（LSM）比选用可见光的传统显微镜，具有更高的平面分辩率。LEXT OLS4500选用405 nm的短波长半导体激光、高数值孔径的专用物镜、以及共同的共焦光学系统，能够到达0.12 μm的平面分辩率。此外，OLS4500配有奥林巴斯独有的扫描加扫描型2D扫描仪，能够完结高达4096×4096像素的高精度XY扫描。

　　激光显微镜选用短波长半导体激光和独有的双共焦光学系统， 会删去未聚集区域的信号， 只将聚集规模内的反射光检测为同一高度。一起结合高精度的光栅读取才能， 能够生成高画质的印象， 完结准确的3D丈量。

　　能够调查纳米级微观世界的探针显微镜(SPM:Scanning Probe Microscope)

　　探针显微镜（SPM）是经过机械式地用探针在样品外表移动，检测出探针与样品之间发生的力、电的相互效果，一起进行扫描，然后得到样品印象。探针顶级曲率半径为10 nm左右。典型的探针显微镜是原子力显微镜（AFM），它经过检测探针和样品外表之间效果的引力和张力进行扫描并取得印象。探针显微镜能够调查纳米级微观描摹，能够捕捉到样品最精密的一面。

　　探针显微镜具有多种调查形式，能够调查、丈量样品外表的形状，还能够进行物性剖析。OLS4500配有以下形式。

　　探针显微镜的平面分辩率由探针前端的直径决议。奥林巴斯单独开发、出产微悬臂，其探针前端的尖利直径质量安稳，可靠性很高。此外，奥林巴斯的一系列首创规划—使探针定位愈加简单的“TipView”结构、镊子型易于夹取物体的“新概念探针”等，不只进步了观测精度，还使操作变得愈加轻松。※微悬臂产品的详细信息，请参阅微悬臂产品目录。

　　请根据您的运用频度定时替换微悬臂。OLS4500上的电动物镜转换器、SPM测头、微悬臂支架现已被准确调整过， 所以只需把已调好微悬臂方位的支架刺进SPM测头中即完结替换。微悬臂和支架的方位调整需求运用专用工装夹具， 所以谁都能够正确而轻松的完结操作。此外， 其他各种类型的微悬臂也依照相同办法替换， 进步了调查和丈量的功率。