不同厂家的激光粒度散布仪体系内默许的样品折射率也略有不同，把握样品折射率之后要经过很多的试验选定抱负的测验参数，如遮光度、超声波涣散功率、超声波涣散时刻、涣散剂及其增加量等。纳米粒度仪，关于由两种不同折射率物质混合组成的粉体，选定折射率后也纷歧定能测出精确的粒度散布。纳米粒度仪，测验窗口作为激光粒度散布仪的重要部分对样品测验效果精确性有很大影响。因为超细硅酸锆粒度较细，纤细的粉体颗粒简单粘附在测验窗口上并缓慢改动测验布景，形成测验效果比实践效果偏小。

　　硅片的切开本质是碳化硅微粉颗粒在切开，粒型规矩，切出来的硅片外表光洁度就会很好，粒度散布窄且均匀，硅片的切开才能就会进步。纳米粒度仪，米氏散射理论经麦克斯韦电磁理论严厉推导，是描绘外表润滑的均匀球体对光的散射理论，考虑了散射体（颗粒）的光学特性（折射率和吸收系数）。纳米粒度仪，弗朗和夫衍射理论由原始的光的动摇理论推导，是麦克斯韦理论在小视点下的近似，一般在5°内有效，衍射理论不考虑散射颗粒的光学特性。

　　动态光散射法是测验纳米资料粒度散布的常用办法。首先将纳米颗粒放到适宜的液体（一般为纯净水）中制成悬浮液，悬浮液中的纳米颗粒因为遭到 水分子热运动（布朗运动）的磕碰而进行不规矩运动。纳米粒度仪，当一束水平偏振的激光照射到这些颗粒上时，会在引起的散射光强的瞬间改变。这些瞬间改变的散射光信号的起伏、频率等特征与颗粒巨细有关，对这些信号进行相关运算就可以得到呢米颗粒的粒度散布了。纳米粒度仪，遮光比就是在运用激光粒度仪测验样品时，装备的样品悬浮液的浓度，遮光比的正确挑选是激光粒度仪在粒度测验过程中的一个重要的过程，遮光比是否适宜或者说被测样品的浓度是否适宜严峻关系到粒度丈量效果的精确性和代表性。

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