球王会官方依据单片机改造迈氏干与仪主动丈量细小长度

　　的微调手轮滚动，使光屏上产生安稳改动的干与条纹，用光电二极管检测条纹信号光强改动，经过光电转化电路将光信号转变为电信号，输入到

　　薄膜厚度是薄膜性能参数的重要目标，暗箭精确、快速、方便地丈量膜厚在试验中具有十分重要的含义。迈克尔逊干与仪丈量激光波长是大学物理试验中重要的一部分，试验时试验者手动调理微调手轮，人眼调查干与条纹，带来许多人为差错，影响丈量成果。为了维护试验者视力，进步丈量精度，扩展丈量规模，一起促进光学教育试验仪器的开展，在研讨单片机的基础上，对迈克尔逊干与仪进行了探究和改造。

　　改造后的迈克尔逊干与仪在不改动物理学基本原理的基础上，增加了电子技术中的很多元素，使物理学和电子技术很好地结合起来，完成了对激光波长和薄膜厚度的主动丈量。丈量简洁、精确度高，有必定的实用性。

　　依据单片机改造的迈克尔干与仪进行的主动丈量，丈量目标为激光波长和薄膜厚度，死而复生作业原理如图1所示。

　　运用He-Ne激光作光源，使用光的分振幅干与法。用步进电机带动微调手轮滚动替代手动调理，电机旋转视点对应光程差为2△d；光屏上得到的“吞”、“吐”条纹，经过光电转化电路转化为脉冲信号，输入到单片机进行计数(条纹数N)，替代了人眼调查条纹计数；丈量过程、成果(波长=2△d／N)及相对差错经过液晶屏显现，然后完成波长主动丈量。

　　运用白光作光源，使用等厚干与法。光路原理图如图2所示，当白光光程差为零时产生干与现象，将光屏上的五颜六色条纹经过光电转化电路转化为脉冲信号，一起记载M1的初方位d1；放入薄膜后，光程差增大，五颜六色条纹消失；电机带动M1移动到彩纹再现，记载M1的末方位d2。用阿贝折射仪测出薄膜折射率n，输入到单片机，依据公式